大野 義弘 | Nist
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概要
関連著者
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大野 義弘
Nist
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西山 英夫
松下電器産業(株)
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鈴木 健一
松下電器産業(株)
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中川 靖夫
埼玉大学
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大久保 和明
大塚電子株式会社
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大野 義弘
松下電器
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大野 義弘
米国National Institute of Standards and Technology
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大久保 和明
松下電器産業 照明研
著作論文
- 白色標準反射面としてのPTFE粉末圧着面の作成条件と拡散反射特性
- シリコンホトダイオ-ドの絶対応答度測定にもとづく測光量の値付けと確度の検討
- Division2:光の放射の物理測定:部会会議,workshopに見る国際技術動向
- アメリカの住宅事情
- 白色光を用いたシリコンホトダイオ-ドの自己校正法の実験的検討
- 白色光を用いたシリコンホトダイオ-ドの自己校正法の理論的検討
- 受光器の異色測光誤差の実用的評価方法
- シリコンホトダイオ-ドの絶対応答度の可視域における自己校正とその確度に関する検討
- シリコンホトダイオ-ドの自己校正法にもとづいた253.7nm放射の絶対測定-2-測定方法の確度の検討
- シリコンフォトダイオ-ドの自己校正法に基づいた253.7nm放射の絶対測定
- 2分割受光器を用いた道路照明特性走行測定システム
- 米国における照明事情と研究動向の一面
- Division2:光と放射の物理測定:論文発表,ポスターに見る国際技術動向