中村 優 | 東京都産業技研
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概要
関連著者
著作論文
- PIXE法の工業材料への適用
- イオン加速器を用いた複合イオンビーム分析法の開発
- 2L02 PIXE法による降下ばいじんおよび浮遊粒子状物質の元素分析(II) : PIXE分析用捕集装置の開発
- 2L01 PIXE法による降下煤塵および浮遊粒子状物質の元素分析(I) : ベータ線式質量濃度計捕集済み濾紙のPIXE分析
- イオン加速器を用いた汎用非透過型PIXE分析法の開発
- イオンビームを用いた水素原子分析法の開発
- 大気圧下で深さ方向分析のできる荷電粒子励起X線分析法