大西 健一 | 横浜国立大学大学院工学府

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概要

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• 同名の論文著者
• 横浜国立大学大学院工学府の論文著者

関連著者

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院工学府

• 大西 健一

  横浜国立大学大学院工学府

• 久我 宣裕

  横浜国立大学大学院

• 久我 宣裕

  横浜国立大学

• 小倉 裕俊

  横浜国立大学大学院工学府

• 久我 宣裕

  横浜国立大学 工学部

著作論文

• C-5-3 故障チップデバイスの検出におけるループプローブの効果(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-6 同軸プローブを用いた非接触PIM測定の感度に関する考察(C-5.機構デバイス,一般セッション)
• C-5-9 PIMを用いたパッケージ内部に含まれる接続不良検出の基礎検討(C-5. 機構デバイス,一般セッション)
• C-5-2 微小ループプローブを用いた非接触PIM源位置特定(C-5.機構デバイス,一般講演)

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