門田 靖 | 株式会社リコー

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概要

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関連著者

• 門田 靖

  株式会社リコー

著作論文

• 新しいコンセプトを実現する信頼性技術力
• SPMによるSiデバイスの評価(ナノテクノロジー時代の故障解析技術と解析ツール)
• Snウィスカの発生メカニズム(デンドライトとウィスカ)
• 緻密さと大雑把さ
• 安全性と信頼性思考の接合について : 解析分野における,安全性技術者と信頼性技術者(安全性と信頼性の接合)

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