瀬戸 洋一 | 公立大学法人首都大学東京産業技術大学院大学
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概要
関連著者
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瀬戸 洋一
公立大学法人首都大学東京産業技術大学院大学
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瀬戸 洋一
産業技術大学院大学
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清水 將吾
公立大学法人首都大学東京産業技術大学院大学
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瀬戸 洋一
首都大学東京 産業技術大学院大学
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(株)デンソーウェーブ
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(株)デンソーウェーブ 自動認識事業部
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瀬戸 洋一
産業技術大学院大
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高坂 定
産業技術大学院大学
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横山 完
産業技術大学院大学
著作論文
- L-004 バイオメトリック認証システムに対するFTAによるリスク分析(ネットワーク・セキュリティ,一般論文)
- バイオメトリック認証システムに対するFTAを用いたリスク評価
- 国際標準化に向けたテンプレート保護技術の体系化
- 1.バイオメトリックセキュリティ認証技術の動向と展望(バイオメトリック認証システム)
- 認識技術の法規と標準
- 認証技術の種類と動向
- 日本におけるプライバシー影響評価の実施に関する提案(一般,情報セキュリティ,ライフログ活用技術,ライフインテリジェンス,オフィス情報システム,一般)
- スマートシティにおけるプライバシー影響評価の適用