富田 章久 | Necシステムデバイス・基礎(研本)基礎研

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概要

• 同名の論文著者
• Necシステムデバイス・基礎(研本)基礎研の論文著者

関連著者

• 富田 章久

  Necシステムデバイス・基礎(研本)基礎研

• 広田 修

  玉川大学学術研究所量子情報科学研究施設

• 広田 修

  玉川大学学術研究所

• 南部 芳弘

  Necナノエレクトロニクス研究所

• 南部 芳弘

  日本電気株式会社

• 南部 芳弘

  NECシステムデバイス・基礎(研本)基礎研究所

• 中村 和夫

  NECシステムデバイス・基礎(研本)基礎研究所

• 富田 章久

  北海道大学

著作論文

• 23aYK-6 制御された吸収による完全ベル状態測定
• PA-3-1 量子暗号の原理と実現法
• A-7-11 雑音を用いた暗号の実現法の安全性解析と実証
• TD-1-4 量子暗号の現状と課題

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