下口 敦 | 学習院大大学院、JST-CREST

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概要

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• 同名の論文著者
• 学習院大大学院、JST-CRESTの論文著者

関連著者

• 太田 啓介

  学習院大大学院、jst-crest

• 下口 敦

  学習院大大学院、JST-CREST

• 川元 洋平

  ソニー(株)情報技術研究所

• 足利 政紀

  学習院大大学院、JST-CREST

• 平野 琢也

  学習院大大学院、JST-CREST

• 平野 琢也

  学習院大

著作論文

• 27pYE-11 Plug & Play 方式による連続変数を用いた量子暗号の実証実験(量子エレクトロニクス(量子光学),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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