田辺 晃一 | (株)島津製作所・基盤技術研究所

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概要

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• 浮田 昌昭

  株式会社島津製作所基盤技術研究所

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  島津製作所

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著作論文

• 74 QR撮像装置における散乱線の評価(第25回秋季学術大会一般研究発表予稿集)
• 73 QR撮像装置におけるX線強度分布の影響(第25回秋季学術大会一般研究発表予稿集)
• 116. Quantum Radiographyの画像効果 : 量子計数と従来法の違い
• 125. QR(Quantum Radiography)の散乱線測定
• 116.Quantum Radiographyの画像効果 : 量子計数法と従来法の違い(第24回秋季学術大会 一般研究発表予稿集)
• 125. QR (Quantum Radiography) の散乱線測定 (第 22 回秋季学術大会一般研究発表予稿)

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