石塚 和夫 | 科学技術コンサルタント(gatan Inc. 顧問)
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概要
関連著者
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石塚 和夫
HREM Research
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石塚 和夫
Catan R & D
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石塚 和夫
科学技術コンサルタント(gatan Inc. 顧問)
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石塚 和夫
GATAN
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丹司 敬義
名古屋大
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石塚 和夫
R&d Gatan Inc.
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木村 能章
生物分子工研・構造解析
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石塚 和夫
新技術事業団
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丹司 敬義
新技術事業団 外村位相情報プロジェクト
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大野 太久
東洋大・工
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丹司 敬義
新技団外村P
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丹司 敬義
新技術事業団
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石塚 和夫
有限会社HREM
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松井 良夫
物材機構
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于 秀珍
物材機構-ancc
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橋本 綾子
産業技術総合研究所新炭素系材料開発研究センター
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長井 拓郎
物質・材料研究機構
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松井 良夫
物質・材料研究機構
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松井 良夫
編集委員会
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浅香 透
物材機構
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十倉 好紀
JST-ERATO
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富岡 泰秀
産総研
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金子 良夫
Erato-mf
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松井 良夫
物材機構物質研
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木本 浩司
物材機構
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木本 浩司
日立
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木本 浩司
(株)日立製作所日立研究所研究員
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木本 浩司
日立 日立研
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浅香 透
ファインセラミックスセンター
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富岡 泰秀
産総研CERC
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于 秀珍
JST-ERATO
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金子 良夫
JST-ERATO
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浅香 透
物材機構HVEMS
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長井 拓郎
物材機構HVEMS
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木本 浩司
物材機構HVEMS
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松井 良夫
物材機構HVEMS
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三石 和貴
物材機構
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橋本 綾子
(財)神奈川科学技術アカデミー
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陳 軍
新技術事業団 外村位相情報プロジェクト
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橋本 綾子
物材機構
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竹口 雅樹
物質・材料研究機構
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平山 司
財団法人ファインセラミックスセンター
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三石 和貴
物質・材料研究機構
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下条 雅幸
埼玉工大
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竹口 雅樹
物材機構
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木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター 先端電子顕微鏡グループ
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木本 浩司
名古屋大学大学院工学研究科応用物理学専攻
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木本 浩司
物質・材料研究機構 ナノ計測センター
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木本 浩司
株式会社日立製作所日立研究所
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平山 司
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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平山 司
新技術事業団 外村位相情報プロジェクト
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茹 慶新
新技術事業団 外村位相情報プロジェクト
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石塚 和夫
新技団外村P
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大野 太久
東洋大工
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石塚 和夫
外村P
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石塚 和夫
R&D, Gatan Inc.
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松井 良夫
科学技術庁・無機材質研究所
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松井 良夫
NIMS
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石塚 和夫
コンサルタント(Gatan Inc.技術顧問)
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茹 慶新
科技団
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三石 和貴
物質材料研究機構
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三石 和貴
(独)物質・材料研究機構
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竹口 雅樹
物材機構ナノマテ研
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松井 良夫
物質・材料研究機構 物質研究所
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橋本 綾子
産総研
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石塚 和夫
東京大学・化学研究所
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石塚 和夫
京都大学・化学研究所
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于 秀珍
RIKEN-CERG
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三石 和貴
物材機構ナノマテ研
著作論文
- 27aPS-75 Ba_2FeMoO_6における磁区と反位相ドメインの関係(27aPS 領域8ポスターセッション(低温),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 電子顕微鏡データの定量解析
- マルチスライス法によるHREM、STEM-HAADFシミュレーション (最新のシミュレーション技法)
- 25pWZ-4 2次元検出器を用いた共焦点電子顕微鏡法(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 30p-YM-11 電子線ホログラフィによる磁性体微粒子の磁区状態決定
- 30p-YM-10 電子線ホログラフィによる表面のプロファイル像II
- 12p-DL-10 結晶構造像の電子線ホログラフィII
- 29a-ZB-8 結晶構造像の電子線ホログラフィ
- 高分解能観察軸合わせ法
- 米国金属学会シンポジウム報告(最近の研究から)
- 高分解能電子顕微鏡における結像理論の研究
- 3C1000 生物分子の高分解能単粒子解析
- CAEM-Low Doseによる生体高分子からの電子線回析データの取得
- CAEMによる生物分子の単粒子観察
- 電子顕微鏡における撮像技術(1) : CCD撮像素子を用いる方法の特徴
- 6p-X-4 Multislice法(原理と応用)
- EELSスペクトルのデコンボルーションによるエネルギー分解能の向上
- 強度輸送方程式を用いた位相計測とソフトウェアによる球面収差補正
- 高速電子線の動力学的回折 : ―物理光学的方法―
- 高分解能電子顕微鏡の結像理論