青木 清 | 駒澤短期大学
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概要
関連著者
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青木 清
駒澤短期大学
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青木 清
駒澤大学医療健康科学部
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小山 正希
駒澤短期大学放射線科
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小山 正希
駒澤大学医療健康科学部診療放射線技術科学科
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杉田 徹
駒澤短期大学
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福士 政広
東京都立保健科学大学
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小柏 進
中央医療技術専門学校 診療放射線学科
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福士 政広
首都大学東京健康福祉学部・放射線学科
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福士 政広
首都大学東京大学院 人間健康科学研究科
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福士 政広
首都大学東京大学院人間科学研究科
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井上 一雅
駒澤短期大学
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細田 正洋
中央医療技術専門学校 診療放射線学科
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福士 政広
首都大学東京大学院人間健康科学研究科放射線科学系
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井上 一雅
Division Of Hematology And Oncology Beth Israel Deaconess Medical Center Harvard Medical School
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井上 一雅
首都大学東京大学院保健科学研究科:国立がんセンター東病院放射線部
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武中 英治
駒澤短期大学放射線科
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HOSODA Masahiro
National Institute of Radiological Sciences, Research Center for Radiation Protection
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細田 正洋
中央医療技術専門学校
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田島 隆
駒澤短期大学
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田島 隆
駒沢大学短期大学部放射線科
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上田 隆司
駒沢短期大学専攻科放射線技術科学専攻:(現)国立松本病院放射線科
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金場 敏憲
駒沢短期大学放射線科
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金場 敏憲
駒澤短期大学放射線科
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佐藤 昌憲
駒澤短期大学放射線科
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細田 正洋
東京都立保健科学大学院
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佐藤 昌憲
駒沢短期大学 放射線科
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青木 清
駒澤短期大学放射線科
著作論文
- 種々の物質における後方散乱線の基礎検討(第30回秋季学術大会放射線防護管理関連演題発表後抄録)
- X線入射表面での検出器吸収線量スペクトルに及ぼす検出器厚の影響
- データ収集及びデジタル制御学生実験におけるExcel VBAの活用
- X線照射野中心での表面スペクトルに及ぼす散乱線発生場所の影響
- 診断用X線入射表面における検出器吸収線量スペクトル
- 診断用X線に対する散乱線低減材料としての鉛の有効性
- 診断用X線の後方散乱における光子数と光子平均エネルギーの角度分布
- X線スペクトル測定用小形シリコン検出器の検出効率
- 診断用X線のエネルギー分布測定(V) : 小型検出器の開発
- 診断用X線のエネルギー分布測定(IV) : モンテカルロ法による検出器からの光電子エスケープ現象の研究
- 診断用X線のエネルギー分布測定(III) : 散乱線のスペクトル
- Si半導体放射線検出器のためのイオン注入による接合面の形成
- 診断用X線のエネルギー分布測定(II) : シリコンフォトダイオードによる測定
- 240 種々の物質における後方散乱線の基礎検討(第30回秋季学術大会 一般研究発表予稿集)
- 診断用X線写真撮影時における散乱線の測定(I)
- 高計数率条件下における放射線エネルギースペクトルの測定