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HASEGAWA Kento | Dept. of Computer Science and Communications Engineering, Waseda University
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公正(fair)な論文審査基準を学会で作ろう
特集[残留応力測定・解析, X線応力測定」の編集にあたって
等方性および異方性材料のX線応力測定法の新理論
よくわかる実験技術 : X線による残留応力測定法の基礎
二次元的表面粗さの光学的測定法
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