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藤田 克英 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所安全科学研究部門
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エネルギーフィルター型RHEED-AESによる表面研究
RHEED波動場によるオージェ電子強度変化
Si(111) 7×7 基板上に成長する CaF_2 薄膜表面形態の AFM 観察
EF-RHEED図形内の微傾斜Si(001)表面ステップ情報
エネルギーフィルター型RHEED図形内の振動相関熱散漫散乱
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