深見 裕子 | 大阪大学大学院工学研究科電子情報エネルギー工学専攻|大阪大学大学院工学研究科自由電子レーザー研究施設
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概要
論文 | ランダム
- 第 8 回日本計算工学会講演会報告記
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- Suppression of Boron Penetration from Source/Drain-Extension to Improve Gate Leakage Characteristics and Gate-Oxide Reliability for 65-nm Node CMOS and Beyond
- 限定された採血量の血液を対象とした開放終端同軸プローブによる複素比誘電率の測定(放送,EMC,一般)
- 他施設への出向透析 (第37回日本血液浄化技術学会学術大会) -- (管理)