桑山 健太 | 九州工業大学大学院|東陶機器 (株) より出向
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概要
論文 | ランダム
- Generalized Model of Oxidation Mechanism at HfO_2/Si Interface with Post-Deposition Annealing
- 老年期アルコール関連障害の臨床像の変化と長期予後 (特集 老年期精神障害の臨床像の変化と長期予後)
- Dielectric Constant Increase of Yttrium-Doped HfO_2 by Structural Phase Modification
- 研究と報告 構成障害と記銘力障害で発症し精神病症状を伴った初老期痴呆の1例
- Far Infrared Study of Structural Distortion and Transformation of HfO_2 by Introducing a Slight Amount of Si