白井 英大 | 富士通LSIテクノロジ(株)

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

• 津田 英隆

  富士通(株)

• 白井 英大

  富士通LSIテクノロジ(株)

• 白井 英大

  富士通セミコンダクターitシステムズ (株)

• 篠原 歩

  東北大学大学院情報科学研究科

• 寺邊 正大

  (株)三菱総合研究所

• 橋本 和夫

  東北大学大学院 情報科学研究科

• 橋本 和夫

  東北大学大学院情報科学研究科

• 橋本 和夫

  国際電信電話株式会社研究所

• 寺邊 正大

  株式会社三菱総合研究所

• 寺邊 正大

  (株)三菱総合研究所総合安全研究センター

• 寺邊 正大

  (株)三菱総合研究所 安全技術研究部

• 橋本 和夫

  Kddi米国研究所

• 寺邊 正大

  大阪大学大学院工学研究科

• 橋本 和夫

  Kdd

• 橋本 和夫

  Kddi研

• 寺邊 正大

  三菱総研

• 白井 英大

  富士通セミコンダクタITシステムズ(株)

• 高木 治

  富士通(株)

• 津田 英隆

  富士通LSIテクノロジ(株)

• 橋本 和夫

  知識情報処理グループ・リーダ

• 寺辺 正大

  三菱総合研究所総合安全研究センター

• 津田 英隆

  富士通（株）

• 寺邊 正大

  （株）三菱総合研究所

• 津田 英隆

  富士通 (株)

• 寺邊 正大

  (株) 三菱総合研究所

• 橋本 和夫

  東北大学医学部薬理学教室

• 篠原 歩

  東北大学

• 橋本 和夫

  東北大学 大学院情報科学研究科

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著作論文

• 半導体歩留り解析へのデータマイニング適用手法の提案
• デバイス開発へのデータマイニングの適用
• デバイス開発へのデータマイニングの適用
• 半導体歩留り解析に回帰木分析を適用するための仮説検証手法の提案
• 半導体歩留り解析のための回帰木に基づく仮説検証手法の提案
• フォトリソグラフィーデータ解析へのデータマイニングの適用 (特集 半導体製造における最新検査装置・システム)
• 半導体歩留り解析のための回帰木に基づく仮説検証手法の提案

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