大村 健太 | 株式会社　早稲田環境研究所

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概要

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• 株式会社　早稲田環境研究所の論文著者

論文 | ランダム

• エネルギーフィルター型RHEED-AESによる表面研究
• RHEED波動場によるオージェ電子強度変化
• Si(111) 7×7 基板上に成長する CaF_2 薄膜表面形態の AFM 観察
• EF-RHEED図形内の微傾斜Si(001)表面ステップ情報
• エネルギーフィルター型RHEED図形内の振動相関熱散漫散乱

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