長谷川 和男 | 根本鍍研薬品株式会社

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概要

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論文 | ランダム

• 強可検査性に基づくテスト容易化高位合成
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• 単一制御可検査性に基づくレジスタ転送レベルデータパスの組込み自己テスト容易化設計法
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• 固定制御可検査性に基づくRTL回路の非スキャンテスト容易化設計法

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