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高田 侑里 | 大阪大学工学部電子情報エネルギー工学科
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大阪大学工学部電子情報エネルギー工学科 | 論文
ボロンの過渡拡散におけるバックグラウンド炭素濃度依存性
低エネルギー注入ボロンの低温熱処理時におけるキンク濃度の解析
シリコン中の{311}欠陥へのボロンの析出:第1原理計算に基づく検証
Siイオン注入ダメージによるAsの過渡増速拡散
格子間シリコン原子拡散のバックグラウンド炭素濃度依存性
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