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土井 哲夫 | 日立製作所目立研究所
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単一分子分光法を駆使した測定技術--光アンチバンチング測定 (特集 光の極限に挑む)
XXIst IUPAC Symposium on Photochemistry 報告
光で見るナノの世界(1)一つの分子の状態を捉える 単一分子蛍光測定
単一マルチクロモファ分子における励起状態ダイナミクス
PB48 電子受容性部位を有するスメクチック液晶の合成及びその物性(2004年日本液晶学会討論会)
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