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保坂 純男 | (株)日立製作所基礎研究所
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(株)日立製作所基礎研究所 | 論文
ゆう度付き形態素解析用の汎用アルゴリズムとそれを利用したうゆう度基準の比較
APS会議報告
Si表面近傍におけるボロンクラスタの安定位置とそのSTM像
STMナノファブリケーションを用いたSi(111)表面電気伝導度の測定
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