伊藤 宏司 | 広大・工
スポンサーリンク
概要
広大・工 | 論文
- 20pHT-11 陽電子寿命測定法によるAINセラミックス中の熱伝導率と透光性に寄与する格子欠陥(20pHT 格子欠陥,ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 銅γ相合金の構造欠陥 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成12年度)
- 格子間原子と格子間原子集合体の問題点と課題 (「陽電子ビームの形成と物質科学への応用」京都大学原子炉実験所専門研究会報告(平成10年))
- 23pWZ-6 電解メッキ法によるCrMoメッキ層中の高密度ナノボイド形成とその構造(23pWZ 格子欠陥・ナノ構造(金属,点欠陥,シュミレーション),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 31p-M-4 極低温で中性子照射されたAu中のカスケード損傷欠陥形態の照射量依存