市川 直弥 | 東京工業高等専門学校専攻科
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概要
東京工業高等専門学校専攻科 | 論文
- D-11-55 候補点解析による指紋画像からの高精度コア/デルタ検出手法(D-11.画像工学D(画像処理・計測),一般講演)
- D-11-124 拡張隣接グラフによる指紋画像のコア/デルタ点検出手法の改善(D-11.画像工学D(画像処理・計測),一般講演)
- Ta-Zr合金による陽極酸化膜キャパシタの電気的特性に及ぼす熱処理温度と酸化膜厚低減の影響
- C-6-8 Ta-Zr合金による熱的に安定な高誘電率陽極酸化膜キャパシタの作製
- D-11-132 局所2値化による輪郭情報を用いたカラー画像からの顔領域検出(D-11.画像工学D(画像処理・計測),一般講演)