SUMI Hirofumi | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.

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概要

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Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 論文

• Degradation of Flash Memory Using Drain-Avalanche Hot Electron (DAHE) Self-Convergence Operation Scheme
• Effect of Strain on Static and Dynamic NBTI of pMOSFETs
• Top Antireflective Coating Process for 193 nm Lithography

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