Burkhard Herbert | Deutsche Telekom AG, Forschungs–und Technologiezentrum, P.O.Box 100003, D–64276 Darmstadt, Germany
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概要
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論文 | ランダム
- 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 混合単層有機EL素子キャリア注入特性の検討(発光型/非発光型ディスプレイ)
- シリコン結晶中ドーパント原子・クラスターの検出
- 分子ビーム注入におけるドーパント分子の解離距離の制御性
- 半導体式ガスセンサに用いられるSnO2系センシング材料中のドーパントの役割(3)X線回折法・中性子回折法による結晶構造解析