秋山 浩一 | 富士ゼロックス(株)
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概要
関連著者
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秋山 浩一
富士ゼロックス(株)
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高木 智彦
香川大学工学部
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古川 善吾
香川大学工学部
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大西 建児
(株)豆蔵
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鈴木 三紀夫
Tis(株)
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河野 哲也
電気通信大学
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古川 善吾
香川大学工学部電子・情報工学科
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高木 智彦
香川大学工学部電子・情報工学科
著作論文
- 3.組合せテストの設計(ソフトウェアテストの最新動向)
- 2-16 ソフトウェアにおけるバグの作り込まれる構造の整理 : 「バグの作り込まれる構造の整理」研究グループ活動報告(4.研究発表会の要旨,(社)日本品質管理学会 第80回研究発表会)
- 直交表を用いたソフトウェアテストにおける効果的な因子選択・割り付け手法