Koshino Hiroyuki | Global Research Cluster, RIKEN

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概要

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論文 | ランダム

• 実験のための統計的方法
• EPROM用超薄型パッケ-ジTWSOPの開発 (半導体デバイス) -- (基盤技術)
• 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計
• 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
• 単一端子変化遅延テストに基づくデータパスのテスト容易化設計(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)

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