Muto Shinzo | Department of Electrical Engineering and Computer Science, Faculty of Engineering, Yamanashi University, 4–3–11 Takeda, Kofu 400–8511, Japan
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概要
- 同名の論文著者
- Department of Electrical Engineering and Computer Science, Faculty of Engineering, Yamanashi University, 4–3–11 Takeda, Kofu 400–8511, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 21pGS-2 表面X線散乱法によるルブレンFET界面の構造観測 : ゲート電圧効果(21pGS 界面デバイス1,領域7(分子性固体・有機導体))
- 20pGS-11 SGMを用いたCNT薄膜FETの特性評価(20pGS ナノチューブ,領域7(分子性固体・有機導体))
- 21aHW-3 g因子制御された電界閉じ込め量子ドットにおける光応答特性(21aHW 量子井戸・超格子・光応答,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 21aHV-12 開放系量子ドットにおける走査ゲート顕微鏡像の解析2(21aHV 量子ドット,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- O13-3.腹腔鏡補助下胃全摘術(LATG)におけるMulti Flap Gate(MFG)とTilteTopPlus(TTP)を用いた安全で容易な食道空腸吻合(主題IV 腹腔鏡胃切除術,第39回胃外科・術後障害研究会)