Nagata Michihiko | Fundamental Electronics Research Institute, Osaka Electro-Communication University, 18-8 Hatsu-cho, Neyagawa, Osaka 572-8530, Japan
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概要
- 同名の論文著者
- Fundamental Electronics Research Institute, Osaka Electro-Communication University, 18-8 Hatsu-cho, Neyagawa, Osaka 572-8530, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 後方散乱係数の再検討と近似曲面(討論会テーマ:『X線検査における医療被ばく線量標準測定法』の確立に向けて,第27回計測分科会発表抄録)
- 一般撮影における被ばく線量推定ソフトPCXMCについて(討論会テーマ : 被ばく線量推定ソフトの紹介および評価,第26回計測分科会討論会発表抄録)
- 後方散乱係数の再検討と近似曲面(討論会テーマ : 『X線検査における医療被ばく線量標準測定法』の確立に向けて,第27回計測分科会討論会(2))
- イメージとインプレッション
- 蛍光量計の計測開口角が散乱係数に与える影響 : モンテカルロ計算による