Tanabe Hiroyoshi | Opto–Electronics Research Laboratories, 4–1–1 Miyazaki, Miyamae–ku, Kawasaki 216, Japan
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概要
- 同名の論文著者
- Opto–Electronics Research Laboratories, 4–1–1 Miyazaki, Miyamae–ku, Kawasaki 216, Japanの論文著者
論文 | ランダム
- 1987年度の〔日本非破壊検査協会〕標準化委員会活動報告
- 傾斜割れによる漏洩磁束の測定と傾斜角度の評価方法
- 漏洩磁束探傷におけるリフトオフ効果と欠陥寸法評価方法
- 1983年度における電磁気・浸透その他による非破壊検査の展望
- 第3分科会の30年 (〔日本非破壊検査協会〕創立30周年記念特集号)