Kugimiya Koichi | Central Research Laboratory, Matsushita Electric Industrial
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概要
論文 | ランダム
- 4a-F-18 ウラン薄膜の光電子分光
- 31p-WC-2 XPDによる表面偏析Geエピタキシャル成長機構の解析 : Sb/Ge/Si(001)
- 13a-PS-5 オ-ジェ電子回折法によるGe吸着Si(001)表面の構造解析
- 25p-Z-2 W(100) c(2×2)-Au, Ag表面のXPD
- 30p-E-2 ウラン化合物の内殻線形状の非対称性