Kamiyama Eiji | Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation

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概要

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Sumitomo Mitsubishi Silicon Corporation | 論文

• Electrical Characterization of Strained Si/SiGe Wafers using Transient Capacitance Measurements
• Evaluation of Interface States Density and Minority Carrier Generation Lifetime for Strained Si/SiGe Wafers Using Transient Capacitance Method

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