久保 由治 | 首都大学東京 大学院都市環境科学研究科
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概要
論文 | ランダム
- 半導体デバイス微細化に伴う中性子起因のマルチセルアップセットの多様化
- 半導体デバイス微細化に伴う中性子起因のマルチセルアップセットの多様化(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- 進むパラダイムシフト : 半導体デバイスの宇宙線中性子エラー
- JEITAにおけるソフトエラー測定ガイドライン作成活動報告 : メモリにおけるソフトエラー測定法の標準化(新メモリ技術,メモリ応用技術,一般)
- 次世代半導体デバイススケーリングの新たな障壁 - 宇宙線中性子ソフトエラー -