福山 樹里 | JaLC普及分科会，国立国会図書館
スポンサーリンク
概要
論文 | ランダム
- PE5 SiO_2/IDT/ZnO/ダイヤ構造のSAW特性検討(ポスターセッション1)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- ダイヤモンドSAWフィルターの特性と応用
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)