前田 正彦 | 金沢工大工

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概要

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• 金沢工大工の論文著者

金沢工大工 | 論文

• 表面を探る : 2. 表面顕微鏡: Si表面のSTS ( 表面)
• 27p-R-4 STMによるSi(001)面上のGe蒸着膜の微細構造観察
• 2P-E-1 STM/STSによるSi(001)表面のステップ構造とその電子状態の研究
• 28a-S-2 針状試料先端の半導体超薄膜からの電子のトンネル過程
• 5a-R-13 針状試料先端の半導体膜の研究III

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