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河田 燕 | 電気試験所
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電気試験所 | 論文
遠焦点電子ビーム集束を用いた微小焦点X線装置とその応用
多目的イオンビーム装置 : 荷電ビームと応用
マイクロプローブをうる電子工学系の球面収差係数依存特性 : 荷電ビームと応用
Quadrupoleを用いたCuring用電子ビーム照射系 : 荷電ビームと応用
有機物の重合による電子線像の記録 : 荷電ビームと応用
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