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理学電機 | 論文
- インプレーン光学系による薄膜材料測定とその応用
- 試料水平型X線反射率測定装置による気水界面高分子組織体のナノ構造解析
- 準安定相二酸化バナジウムA型VO2(A)の構造相転移
- X線結晶構造解析を基にした5配位有機ケイ素化合物研究の新展開
- エネルギー分散型斜入射X線分光法(全反射蛍光・回折と反射率・表面伝搬波)
- X線応力測定装置の系統誤差
- 多層膜ターゲットにおける特性X線の空間分布のモンテカルロシミュレーション
- 水素吸蔵合金の高圧水素雰囲気におけるin-situ測定
- 巻頭言 放射光までの道のり
- コラーゲンの三重らせん構造
- Pt(001)/MgO(001)基板上に成膜されたPZT薄膜の結晶構造
- 装置関数との畳み込みによる粉末回折ピークのモデルプロファイル関数
- X線回折と材料科学の研究
- 放射光波長変調回折法とその最近の発展
- CCD X線構造解析装置による分子性伝導体微小結晶の構造研究
- SiO2/Si基板上の多結晶Al,Cuスパッタ膜の放射光を用いたマイクロラウエ回折
- 名古屋大学の結晶学事始
- SPring-8ペンディングマグネットビームラインでのXAFS
- R-AXS RAPID使用記
- ダンベル型フラ-レン二量体C120の合成とX線結晶構造解析