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日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会 | 論文
- 電子チャネリングEELSによる原子サイト選択的電子状態分析 (分析技法の最前線)
- 分析電子顕微鏡を用いた機能性セラミックスおよび金属材料の解析 (材料開発における分析電顕の応用)
- 電子線ホログラフィーを用いた先端磁性材料の評価 (分析技法の最前線)
- 電解研摩法等を利用した合金およびセラミックスの薄膜試料作製 (試料作成法の新展開)
- (海外における)分析電子顕微鏡法の動向と展開 (海外の研究事情)
- 電子後方散乱図形(EBSP:Electron Back Scattering Pattern)法 (ナノテクノロジーへの最新分析電顕Methodology)
- EDSの最新動向
- 元素分析の為の生体試料作製法 (試料作成法の新展開)
- 材料系基礎 (試料作製の基礎と応用展開)
- 外国人特別講演 Materials Applications of Aberration Corrected STEM and EELS
- CBEDによる半導体の歪み解析 (チュートリアル)
- WDSによる状態分析 (最近の分析手法の進展)
- BNナノチューブ--カーボンナノチューブと何処が違うか? (分析電顕によるナノ解析)
- Analytical electron microscopy of B-C-N nanotubes (先端材料への新展開)
- カーボンナノチューブ (分析電顕によるナノ解析)
- EELS basics and applications (チュートリアルセッション)
- 第一原理計算によるスペクトルの解釈 (分析技術の進展--ソフトの最前線)
- 多変量スペクトル分解法の基礎とスペクトラムイメージングへの応用 (分析技術の進展--ソフトの最前線)
- ブロードなアルゴン・イオンビームを用いた新しい試料作製法 (試料作製法の新展開)
- 隔膜型環境TEMシステムの開発と応用 (検出器・ホルダーの最前線)