側貌頭部X線規格写真による鼻の成長に関する加齢変化について
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概要
論文 | ランダム
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- Non-scan Design for Testability for Synchronous Sequential Circuits Based on Fault-Oriented Conflict Analysis(Fault Tolerance)
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- A Novel CMOS Structure with Polysilicon Source/Drain (PSD) Transistors by Self-Aligned Silicidation (Special Issue on Sub-Half Micron Si Device and Process Technologies)
- The Handover Algorithm that Considers the User's Mobility Pattern in Wireless ATM(Special Section on Papers Selected from ITC-CSCC 2000)