Electrical characterization of wafer-bonded germanium-on-insulator substrates using a four-point-probe pseudo-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (Special issue: Solid state devices and materials)
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概要
論文 | ランダム
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- 沿層ボ-リングに伴うAEの計測-1-沿層ボ-リング中のAE活動に関する研究