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論文 | ランダム
電界イオン顕微鏡--最近の発展と将来
3p-U-6 FIMによる表面構造の解析
結晶表面の複合解体と評価
真空漏れさがし : 私はこうしている [IV] (実験メモ)
J.J. Hren and S.Ranganathan 編: Field-Ion Microscopy, Plenum Press, 1968, 244頁, 16×23.5cm, 6,000円.
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