Electrical Properties of Evaporated Bismuth Thin Films (I)
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概要
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The resistivity and magnetoresistance have been measured over the temperaturerange from 78 to 300 K for bismuth films (thickness range 100～2,000A) deposited on a glass substrate prepared by the vacuum evaporationtechnique at room temperature. Other experimental data such as coating andelectrical contacts were also obtained to study the reproducibility of thefilms. The dependences of the resistivity on thickness and temperatureare compared with other data reported to date about the scattering mechanismand size effect.
- 福井大学工学部の論文
- 1972-09-00
福井大学工学部 | 論文
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