『国立西洋美術館展覧会総覧1960-2009』について--展覧会レファレンス・ツール作成の試み
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概要
論文 | ランダム
- 光干渉法による膜形状測定装置「SP-500F」とその応用
- 第9回小田原賞受賞 白色光干渉法による透明膜の3次元膜形状計測 (特集2 優れた画像処理研究に触れる)
- 白色光干渉法による透明膜の形状・膜厚同時測定 (第20回センシングフォーラム 資料--センシング技術の新たな展開と融合) -- (セッション1B2 位置・長さ・形状計測(1))
- 表面形状測定装置SP-500とその応用--光干渉法で世界最高速の測定速度を実現 (特集 非接触3次元計測)
- 高速非接触表面形状測定装置SP-500--帯域通過型標本化定理を応用して世界最高速の測定速度を実現 (特集 フラットパネルディスプレイ技術動向)