ANSYSを利用した圧電デバイスにおける最新解析事例の紹介 (特集 超音波音場・デバイスのシミュレーション手法)

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概要

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論文 | ランダム

• 目録
• 最近の粒径測定装置 (特集:粉粒体プロセスにおける計測技術)
• 粉体の物性測定装置
• レ-ザ-ドップラ-法による粒径と帯電量の同時測定 (〔粉体工学会〕第29回夏期シンポジウム--粉体のキャラクタリゼ-ション)
• 博物館だより 台東区立書道博物館

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