Performance comparison between asymmetric polycrystalline silicon gate and TiN gate fin-shaped field effect transistors (Special issue: Microprocesses and nanotechnology)
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概要
論文 | ランダム
- 533 気孔/結晶粒を考慮した微視破壊モデルとワイブル理論との比較検討(OS7-3 損傷・破壊)(OS7 微視構造を有する材料の力学)
- 324 気孔によるき裂進展効果を考慮した破壊モデルの検討
- 示I-236 肝血管腫及び類似病変の検討
- 第53回分析化学討論会を顧みて (1992年, 秋田)
- 金属錯体の色のはなし(化学への招待)