Moire法によるひずみ解析の際生ずる一次誤差の補正について

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 大阪産業大学学会の論文

大阪産業大学学会 | 論文

• RFマグネトロンスパッタ法にて作成したZnO:Al薄膜の電気的光学的性質
• 相変化形Ag-In-Te-Sb系光記録膜
• Ga-Se-Te-Ge系薄膜を用いた光メモリ素子
• Ga-Se-Te系薄膜を用いた光メモリ素子
• As-Se-Tl系半導体の電気的光学的性質と熱電発電素子への応用

もっと見る

スポンサーリンク