Investigation of DC Hot-Carrier Degradation at Elevated Temperatures for n-Channel Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistor of 0.13μm Technology (Special Issue: Solid State Devices & Materials)
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概要
論文 | ランダム
- 当科での腹腔鏡下手術における対象症例の変遷および合併症に関する検討 : 腹腔鏡下手術導入初期と近年の比較
- 腹腔内異物を腹腔鏡下手術にて摘除できた2例
- 交差形わたり線用の架線・パンタグラフ系シミュレーションの開発 (特集:電力技術)
- 新幹線トンネル内列車走行時集電系の空力特性 (特集:電力技術)
- 狭小トンネル突入時のトロリ線押上量の抑制法に関する検討