ナノ粒子の分散・凝集評価のための表面間力測定技術 (特集 粉体工業分野におけるナノテク関連評価技術)
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概要
論文 | ランダム
- イメ-ジングプレ-ト低温X線構造解析装置とその分子性金属結晶への応用
- 電気伝導
- 28p-YJ-7 分子性金属・超伝導体の低温構造(I)-α-(Me_2Et_2N)[Ni(dmit)_2]_2, α-(BETS)_2I_3
- ケプストラム解析を用いたブレ画像の Blind Deconvolution
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