半導体デバイス観察へのFIBの適用 (特集 FIB加工による電顕試料作製の現状と課題)
スポンサーリンク
概要
日本顕微鏡学会 | 論文
- カソ-ドルミネツセンスによる半導体低次元構造の評価 (日本電子顕微鏡学会第43回シンポジウム論文集--21世紀へ向けての新技術の展開--平成10年10月28日(水)〜30日(金),千葉大学けやき会館〔含 著者名索引〕) -- (ワ-クショップ カソ-ドルミネッセンスを使った機能評価法の発展)
- 空間解析による中枢神経系の機能的構造の解明
- 肝臓の再生医学
- 脳腫瘍病理診断のための電子顕微鏡学貢献
- STEM-EELSを用いた高精度分析