PIXEにおける後方散乱陽子除去用永久磁石の設置
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概要
〔東京大学原子力研究総合センタ-〕 | 論文
- 14C-AMS測定試料グラファイト化収率改善に向けて(その2) (第9回東京大学原子力研究総合センター技術発表会)
- 液体シンチレ-ション測定におけるケミルミネッセンスの特性 (1996 第5回東京大学原子力研究総合センタ-技術発表会)
- 酸共存放射線劣化溶液系へのUO2〔2+〕の担持 (2003 第12回東京大学原子力研究総合センター技術発表会) -- (技術報告及び話題提供)
- デュオプラズマトロンイオン源フィラメント長寿命化に関する基礎実験 (第11回東京大学原子力研究総合センター技術発表会)
- 後方散乱分析装置(RAPID)の歩み (2004 第13回東京大学原子力研究総合センター技術発表会)