フラットネス計測技術 (特集・セミコン産業における計測検査技術)
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概要
新技術コミュニケ-ションズ | 論文
- 多層光ディスクの球面収差と光ヘッドの焦点制御方式 (特集 青色ROM光ディスク時代を迎えて(後編))
- 世界最大容量25.6Tbpsファイバー通信を実現する超高速光変調・制御技術 (特集 甦る超大容量光ファイバー通信)
- 光ファイバーレーザーの環境遠隔計測分野への応用 (特集 光ファイバーレーザーの新展開)
- APDセンサーと宇宙:超小型衛星Cute-1.7+APDの挑戦 (特集 スペースオプティックス--宇宙開発における光学)
- 長さおよび光周波数の標準・周波数安定化レーザー (特集:計量標準)